測試銅合金儀器

我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)（環(huán)保ROHS和鹵素檢測）：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素檢驗(yàn)等等。總之銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測。

檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），簡單方便的是X熒光光譜儀（手持式或臺(tái)式），精度更高穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

X射線熒光光譜分析儀：

X射線熒光光譜分析儀 應(yīng)對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務(wù)于各大重要部門。

手持式儀器資料：

詳細(xì)信息

合金分析儀用途及應(yīng)用領(lǐng)域
用于現(xiàn)場，無損，快速，準(zhǔn)確分析檢測合金元素和合金pai號的識別。
•  合金材料鑒別（PMI）

•  廢舊金屬回收

•  質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）
   在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。Delta合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)制造商的各種制造業(yè)。
可分析的常見合金
鐵合金系列：不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼、工具剛
鎳基合金系列：鎳合金、鎳/鈷超合金
鋁合金
鈦基合金系列
銅基系列：青銅、黃銅、銅鎳合金
鈷基合金系列
溫合金：
鉬鎢合金
混雜合金系列
儀器自帶384個(gè)標(biāo)準(zhǔn)合金pai號，用戶可自定義300多種合金等級pai號
分析模式及其所分析的元素范圍
元素分析范圍：從22號元素鈦到94號元素钚Pu，儀器標(biāo)準(zhǔn)配置元素如下。
Alloy PLUS模式：Mg、Al、Si、P、、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hf、Ta、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等元素。
FastID快速識別模式：384種標(biāo)準(zhǔn)合金pai號等級及客戶自定義300多種合金pai號等級。
(可以根據(jù)客戶需要增加其他元素)

分析軟件
基于windows CE 的分析軟件
• 超大的圖標(biāo)顯示，菜單式驅(qū)動(dòng)

的技術(shù)性能
• 的X射線管，無壓電源線，無RF噪音干擾。更好的X射線屏蔽。
•  整機(jī)使用鋁合金固定和保護(hù)，頂部加開槽式散熱裝置，根本性解決XRF儀器存在的散熱問題。
•  工業(yè)級觸摸顯示屏與主機(jī)一體化密封設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐磨，不易劃傷。
•  顯示屏采用白光顯示技術(shù)，強(qiáng)烈陽光下也能清晰顯示，且能耗低。
•  基于windows CE 6.0的Innov-x分析軟件。
•  超大的圖標(biāo)顯示，菜單式驅(qū)動(dòng)，使用和操作更輕松、更簡單。
•  更快的分析速度，2秒即顯示分析結(jié)果，可現(xiàn)場查看光譜。
•  現(xiàn)場獲取校準(zhǔn)曲線。
•  采用多光束技術(shù)，使輕質(zhì)元素的分析效果達(dá)到佳。
•  集成的氣壓計(jì)。
•  內(nèi)置加速器，即節(jié)能，又可延長儀器使用壽命。
•  超大內(nèi)存2G存儲(chǔ)器
•  浮點(diǎn)運(yùn)算、CPU532M，ARM1136-MX31處理器
•  儀器可存儲(chǔ)電能，更換電池時(shí)無須關(guān)機(jī)。

臺(tái)式儀器資料：

性能特點(diǎn)

效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較的峰背比
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
信噪比的電子線路單元
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%

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