電鍍鍍層光譜分析儀

鍍層檢測(cè)：

2.1、常見金屬鍍層有：

 2.2、單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內(nèi)，

可小測(cè)量達(dá)0.001um。

2.3、多層厚度范圍

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4、鍍層層數(shù)為1-6層

2.5、鍍層精度相對(duì)差值一般<5%。

2.6、鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

單層分析精度，以Ni舉例：（相對(duì)差值）

報(bào)告打印：

可以PDF，Excel格式輸出報(bào)告，歷史數(shù)據(jù)查詢方便

安全使用,維護(hù)與保養(yǎng)

6.1、由于儀器非常精密，未經(jīng)允許情況請(qǐng)不要打開儀器外殼，不要對(duì)X射線源和探測(cè)器進(jìn)行改變，由于用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負(fù)責(zé)任。

6.2、儀器安裝一定要平穩(wěn)，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標(biāo)準(zhǔn)的220V交流電，電壓不穩(wěn)情況要配備穩(wěn)壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負(fù)責(zé)。

6.3、請(qǐng)不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發(fā)生觸電。

6.4、進(jìn)行測(cè)量時(shí)，因?yàn)楦唠妷毫髦罼射線源，儀器運(yùn)行時(shí)，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過(guò)自動(dòng)運(yùn)行或者遵循用戶指南中止。

6.5、儀器環(huán)境要求：儀器使用環(huán)境需清潔，溫度適宜15℃－30℃，濕度小于80%,電源：AC: 220V ±5V。

以上細(xì)節(jié)均有可能造成無(wú)法預(yù)測(cè)后果，買方應(yīng)予以基本遵守。

驗(yàn)收和保證值

   儀器的性能指標(biāo)所引用的術(shù)語(yǔ)及定義都是根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)， 所有誤差大都被表示成測(cè)量厚度的百分比或者絕對(duì)差值. 除特別說(shuō)明外,所有數(shù)據(jù)指標(biāo)都在西格瑪?shù)目尚艩顟B(tài)下。

   性能測(cè)試所用的標(biāo)樣片都是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)樣品,在相同的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試.這些樣本必須受到保護(hù),以免機(jī)械或化學(xué)的改變,這些將影響到X射線的測(cè)量。

性能測(cè)試要求環(huán)境溫度范圍在 15℃-30℃之間。

環(huán)境相對(duì)濕度 ≤80％

電    源：AC: 220V ±5V

性能主要測(cè)試精度和重復(fù)性；不能使測(cè)厚儀在測(cè)量過(guò)程中產(chǎn)生“晃動(dòng)"

4.1測(cè)量精度

1）精度(單層)：

測(cè)厚儀的檢測(cè)精度表

本儀器產(chǎn)品特點(diǎn)：

采用了Si-Pin探測(cè)器，性能穩(wěn)定，重復(fù)性和重現(xiàn)性好。

在客戶遠(yuǎn)端請(qǐng)求下，我司技術(shù)人員可以遠(yuǎn)程協(xié)助用戶解決常見操作問題（需連接因特網(wǎng)）。

可進(jìn)行多達(dá)5層的多鍍層檢測(cè)。

無(wú)需象采用了正比計(jì)數(shù)器（PC比例器）的儀器那樣，需要標(biāo)準(zhǔn)樣頻繁較準(zhǔn)。

全自動(dòng)操作平臺(tái)，可以連續(xù)多點(diǎn)檢測(cè)，省時(shí)省力。

操作簡(jiǎn)單，界面友好，數(shù)據(jù)直觀顯示。

雙重聯(lián)動(dòng)屏蔽裝置，做到了X射線零輻射，讓使用者更安全

電鍍鍍層光譜分析儀