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簡(jiǎn)要描述：分析合金材料中元素含量的儀器用于分析合金材料（包括不銹鋼）中化學(xué)元素含量的儀器多種多樣，每種儀器都有其工作原理、應(yīng)用范圍和優(yōu)缺點(diǎn)。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-11-10訪 問 量：1206產(chǎn)品分類
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分析合金材料中元素含量的儀器
分析合金材料（包括不銹鋼）中的化學(xué)元素含量的儀器介紹
OES光電直讀光譜儀檢測(cè)元素含量
應(yīng)用領(lǐng)域
適用于鋼鐵、冶金、鑄造、機(jī)械、建筑、環(huán)保等行業(yè)和高等院校、科研院所及質(zhì)量部門對(duì)鋼鐵及其合金、有色金屬及其合金、材料中的多種元素進(jìn)行定量分析測(cè)定，可用于分析不銹鋼等合金材料。
主要功能
1. 元素分析范圍廣：可用于分析鋼鐵及其合金，有色金屬及其合金（鋁合金、銅合金、鎂合金、鋅合金等）、材料中的錳、磷、硅、鉻、鎳、鉬、釩、鈦、鋁、銅、鐵、錫、鋅、鉛、鎂、鈷、鎘、鉍、鍶等元素含量。
儀器優(yōu)勢(shì)：鋼鐵成份檢測(cè)專家
1、CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）、通道不受限制 ；
2、國(guó)內(nèi)生產(chǎn)真空CCD/CMOS全譜技術(shù)光譜儀的制造商；
3、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用
4、升級(jí)多基體方便，無須變動(dòng)增加硬件 ；
5、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)一致性 ；
6、體積小、重量輕， 移動(dòng)安裝方便 ；
7、高集成度、高可靠性、高穩(wěn)定性 ；
直讀光譜分析主要特點(diǎn)：
1、可測(cè)定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；
2、分析速度快捷，20秒內(nèi)測(cè)完所有通道的元素成分。針對(duì)不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線，使儀器用短的時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果；
3、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性；
4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使真空室容積更?。?/span>
5、自動(dòng)光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線，與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定；
6、開放式的電極架設(shè)計(jì)，可以調(diào)整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；
7、工作曲線采用國(guó)際標(biāo)樣，預(yù)做工作曲線，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成，自動(dòng)扣除干擾；
8、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料 ；
9、固態(tài)吸附阱，防止油氣對(duì)光室的污染，提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性；
10、銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能；
11、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短，為用戶節(jié)省氬氣；
12、采用鎢材料電極，電極使用壽命更長(zhǎng)，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能，清潔電極更加容易；
13、高性能DSP及ARM處理器，具有高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊 的運(yùn)行狀況；
14、儀器與計(jì)算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接，抗干擾性能好，外部計(jì)算機(jī)升級(jí)與儀器配置無關(guān)，使儀器具有更好的適用性；
15、核心器件全部，保證了儀器好品質(zhì)。
其他常見分析儀器
X射線熒光光譜儀（XRF）
- 原理：通過發(fā)射X射線激發(fā)樣品中的原子，使其產(chǎn)生特征X射線熒光，根據(jù)熒光的能量和強(qiáng)度來確定元素的種類和含量。
- 特點(diǎn)：無損檢測(cè)，分析速度快，可同時(shí)分析多種元素，適合現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)和大量樣品的篩選。
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP - MS）
- 原理：利用電感耦合等離子體將樣品離子化，然后通過質(zhì)譜儀對(duì)離子進(jìn)行分離和檢測(cè)，從而測(cè)定元素的含量。
- 特點(diǎn)：靈敏度高，可檢測(cè)痕量元素，能夠同時(shí)分析多種元素，分析范圍廣。
原子吸收光譜儀（AAS）
- 原理：基于待測(cè)元素的原子蒸氣對(duì)特定波長(zhǎng)光的吸收特性來測(cè)定元素含量。
- 特點(diǎn)：選擇性好，靈敏度較高，常用于單一元素的精確測(cè)定。
分析合金材料中元素含量的儀器
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